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光学仪器及设备
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博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪G系列
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NanoSystem非接触式3D轮廓仪NVM6000P
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安柏来科学仪器(上海)有限公司成立于上海,在深圳、西安、成都、厦门和苏州有服务人员。我们致力于为客户提供膜厚仪检测方案。经过多年的发展,安柏来科学仪器已发展成为销售包括镀层测厚仪(膜厚仪)在内的多元化设备供应商。我们在上海和美国的实验室积累了庞大的样品库和膜厚仪测试数据。针对不同行业的应用需求,可为客户提供更好的膜厚仪产品和服务。
主营产品
日本电子JSM-7800FPRIME扫描电镜、NanoSystem非接触式3D轮廓仪NVM6000P、PRP Eddycon C手持式涡流探伤仪、日本电子JSM-7610F扫描电镜、日本电子JASM-6200扫描电镜、日本电子JSM-IT300扫描电镜、日本电子JSM-7800F扫描电镜、日本电子JSM-7500F扫描电镜、日本电子JSM-7100F扫描电镜、Applytest AT-30便携式涂层测厚仪、日本电子JSM-6010PLUS扫描电镜、博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪P系列、日本电子JSM-6510扫描电镜、博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪G系列、博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪W系列、博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪O系列、日本电子JCM-6000扫描电镜、博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪L系列、意大利GNR S3直读光谱仪、意大利GNR S4直读光谱仪、博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪B系列、意大利GNR S5直读光谱仪、PRP Sonocon B手持式超声探伤仪、意大利GNR S9直读光谱仪、意大利GNR S1直读光谱仪、日本电子JIB-4000 FIB聚焦离子束、日本电子JIB-4600F聚焦离子束等产品。