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光学仪器及设备
日本电子JSM-7800FPRIME扫描电镜
日本电子JSM-7800F扫描电镜
日本电子JSM-7610F扫描电镜
日本电子JSM-7500F扫描电镜
日本电子JSM-7100F扫描电镜
日本电子JSM-IT300扫描电镜
日本电子JSM-6510扫描电镜
日本电子JASM-6200扫描电镜
日本电子JSM-6010PLUS扫描电镜
日本电子JCM-6000扫描电镜
测厚仪
博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪G系列
博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪B系列
博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪P系列
博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪O系列
博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪L系列
博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪W系列
Applytest AT-30便携式涂层测厚仪
光谱检测分析仪
意大利GNR S9直读光谱仪
意大利GNR S5直读光谱仪
意大利GNR S4直读光谱仪
意大利GNR S3直读光谱仪
意大利GNR S1直读光谱仪
无损检测/无损探伤仪器
PRP Eddycon C手持式涡流探伤仪
PRP Sonocon B手持式超声探伤仪
测量/计量仪器
NanoSystem非接触式3D轮廓仪NVM6000P
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产品系列
产品描述
高品质的图像
通过改进电子光学系统,使图像质量更高,分析更快。
减少了充放电现象
新的扫描方式能抑制非导电性样品的荷电效应。
低真空模式(LV)
低真空压力范围从10 Pa 至 650 Pa,拓宽了可以观察的样品材料的范围。
样品台导航系统
全自动5 轴马达驱动样品台提高了寻找感兴趣的区域(ROI)的速度。使用导航系统(选配件)在彩色图像上能迅速到达感兴趣的区域。
大型样品室和样品台。
能容纳大型、较重的样品,可装载**尺寸为200 mm(φ)× 80 mm( H)、重达2 kg 的样品。
**几何设计的分析接口。
多个接口可以安装EDS、EBSD 和WDS 等附件, EDS 和EBSD 处于同一平面,此外,还能安装两个相隔180 度的EDS 检测器用于高通量的显微分析。