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光学仪器及设备
日本电子JSM-7800FPRIME扫描电镜
日本电子JSM-7800F扫描电镜
日本电子JSM-7610F扫描电镜
日本电子JSM-7500F扫描电镜
日本电子JSM-7100F扫描电镜
日本电子JSM-IT300扫描电镜
日本电子JSM-6510扫描电镜
日本电子JASM-6200扫描电镜
日本电子JSM-6010PLUS扫描电镜
日本电子JCM-6000扫描电镜
测厚仪
博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪G系列
博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪B系列
博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪P系列
博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪O系列
博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪L系列
博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪W系列
Applytest AT-30便携式涂层测厚仪
光谱检测分析仪
意大利GNR S9直读光谱仪
意大利GNR S5直读光谱仪
意大利GNR S4直读光谱仪
意大利GNR S3直读光谱仪
意大利GNR S1直读光谱仪
无损检测/无损探伤仪器
PRP Eddycon C手持式涡流探伤仪
PRP Sonocon B手持式超声探伤仪
测量/计量仪器
NanoSystem非接触式3D轮廓仪NVM6000P
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产品系列
产品描述
产品描述
NVM-6000P是专用型设备,用于基板表面形貌的测量。
基板上的Via Hole,Pad形状,pattem形貌和表面形貌等11个项目可以进行自动测量。
在高速测量下仍具有优秀的重复性和准确性,支持用户设定测量条件和测量数据自动保存及分析功能。
产品规格
扫描范围:0-180um(270um可选)
垂直分辨率:WSI:﹤0.5nm
台阶高度重复性:﹤0.5%(1σ)
横向分辨率:0.2-4um(取决于物镜和FOV)
工作台面:510X405mm(程控)
尺寸:1200(w)X1250(D)X1900(H)
应用领域
Nano View系列为LCD(液晶显示器)、IC Package(芯片封装)、Substrate(基板)、Build-up PCB(积层板)、MEMS(微机电系统),Engineering Surfaces(工程表面)等等领域提供纳米级别精度的量测。