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光学仪器及设备
日本电子JSM-7800FPRIME扫描电镜
日本电子JSM-7800F扫描电镜
日本电子JSM-7610F扫描电镜
日本电子JSM-7500F扫描电镜
日本电子JSM-7100F扫描电镜
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日本电子JASM-6200扫描电镜
日本电子JSM-6010PLUS扫描电镜
日本电子JCM-6000扫描电镜
测厚仪
博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪G系列
博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪B系列
博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪P系列
博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪O系列
博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪L系列
博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪W系列
Applytest AT-30便携式涂层测厚仪
光谱检测分析仪
意大利GNR S9直读光谱仪
意大利GNR S5直读光谱仪
意大利GNR S4直读光谱仪
意大利GNR S3直读光谱仪
意大利GNR S1直读光谱仪
无损检测/无损探伤仪器
PRP Eddycon C手持式涡流探伤仪
PRP Sonocon B手持式超声探伤仪
测量/计量仪器
NanoSystem非接触式3D轮廓仪NVM6000P
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产品描述
强大的通用性与**分辨率的**结合
JSM-7500F场发射扫描电镜的电子光学系统将场发射电子枪和半浸没式(semi-in-lens)物镜组合为一体,场发射电子枪在低加速电压下也能够将电子束聚焦得很细,与通用型扫描电镜一样,对大样品也可以进行高分辨率的观察。
GB模式(即柔和光束)能以极低能量的入射电子束观察样品的浅表面
通过给样品加以偏压并照射电子束,能够利用分辨率高于一般模式的GB模式,与能获得高分辨率的电子光学系统配合使用,JSM-7500F可用能量为数百电子伏的入射电子束对样品的浅表面进行高分辨率观察,这是迄今为止所未能实现的。
新型r-过滤器对二次电子和背散射电子的选择性检测
新型 r-过滤器有标准SB(二次电子检测)模式、标准BE模式(背散射电子检测)、Sb模式(二次电子优先)和Bs模式(背散射电子优先)四种模式。Sb模式能检测以任意比例和背散射电子混合的二次电子,Bs模式能检测以任意比例和二次电子混合的背散射电子,这些功能在简明易懂的菜单上都可一键操作完成。